发明名称 一种静电激励/压阻检测硅微谐振式压力传感器及其制作方法
摘要 一种静电激励/压阻检测硅微谐振式压力传感器及其制作方法,属于传感器领域,本发明为解决现有硅微谐振式压力传感器制作技术存在的问题。本发明包括下层硅片和上层硅片,下层硅片和上层硅片通过BCB胶键合;下层硅片上设置有谐振梁、压力敏感膜片、下层激励电极、压敏电阻和下层引线焊盘;谐振梁的上表面设置有下层激励电极和压敏电阻,下层激励电极和压敏电阻的引线均通过下层引线焊盘引出;压力敏感膜片设置在谐振梁所在谐振腔的底部;上层硅片上设置有上层引线焊盘和上层激励电极;上层激励电极设置在上层硅片下表面的凹槽内;上层激励电极的引线通过上层引线焊盘引出;下层硅片选用N型(111)硅片;上层硅片N型(100)硅片。
申请公布号 CN103557970B 申请公布日期 2015.05.13
申请号 CN201310595163.4 申请日期 2013.11.22
申请人 中国电子科技集团公司第四十九研究所 发明人 金建东;王明伟;吴亚林;李玉玲;齐虹;田雷;王永刚;刘智辉
分类号 G01L1/18(2006.01)I 主分类号 G01L1/18(2006.01)I
代理机构 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人 张宏威
主权项 一种静电激励/压阻检测硅微谐振式压力传感器,其特征在于,它包括下层硅片(1)和上层硅片(2),下层硅片(1)和上层硅片(2)通过BCB胶键合为一个整体;下层硅片(1)上设置有谐振梁(1‑1)、压力敏感膜片(1‑2)、下层激励电极(1‑3)、压敏电阻(1‑4)和下层引线焊盘(1‑5);谐振梁(1‑1)的上表面设置有下层激励电极(1‑3)和压敏电阻(1‑4),下层激励电极(1‑3)和压敏电阻(1‑4)的引线均通过下层引线焊盘(1‑5)引出;压力敏感膜片(1‑2)设置在谐振梁(1‑1)所在谐振腔的底部;上层硅片(2)上设置有上层引线焊盘(2‑1)和上层激励电极(2‑2);上层激励电极(2‑2)设置在上层硅片(2)下表面的凹槽内;上层激励电极(2‑2)的引线通过上层引线焊盘(2‑1)引出;下层引线焊盘(1‑5)和上层引线焊盘(2‑1)暴露接触外界;上层硅片(2)下表面的凹槽与谐振梁(1‑1)所在谐振腔形成密闭空间,下层激励电极(1‑3)与上层激励电极(2‑2)的位置相对设置;下层硅片(1)选用N型(111)硅片;上层硅片(2)选用N型(100)硅片。
地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区一曼街29号
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