发明名称 低温多晶硅薄膜晶体管及其制造方法
摘要 本发明实施例提供一种低温多晶硅薄膜晶体管及其制造方法,方法包括:在栅极金属层上制作形成层间介质层;在层间介质层上形成光阻层,并对光阻层进行第一次退光阻以露出第一面积的层间介质层;对第一面积的层间介质层进行蚀刻以形成第一凹陷区;对光阻层进行第二次退光阻以露出第二面积的层间介质层;对第二面积的层间介质层和第一凹陷区进行蚀刻,以使得第一凹陷区的周边形成阶梯式的第二凹陷区。本发明实施例通过在层间介质层设置阶梯式的凹陷区通道,使得在凹陷区通道内制作源极、漏极金属层时,可以避免凹陷区通道的棱角触碰造成断线的问题,也可以避免源极、漏极金属无法填满凹陷区通道而形成空隙、导致产品可靠度低的技术问题。
申请公布号 CN104617132A 申请公布日期 2015.05.13
申请号 CN201410856397.4 申请日期 2014.12.31
申请人 深圳市华星光电技术有限公司 发明人 卢昶鸣
分类号 H01L29/06(2006.01)I;H01L29/786(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L29/06(2006.01)I
代理机构 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人 何青瓦
主权项 一种低温多晶硅薄膜晶体管的制造方法,其特征在于,所述制造方法包括:在栅极金属层上采用包括氧化硅和氮化硅材料制作形成层间介质层;在所述层间介质层上形成光阻层,并对所述光阻层进行第一次退光阻以露出第一面积的层间介质层;对所述第一面积的层间介质层进行蚀刻以形成第一凹陷区;对所述光阻层进行第二次退光阻以露出第二面积的层间介质层,其中,所述第一凹陷区位于所述第二面积的层间介质层中;对所述第二面积的层间介质层和所述第一凹陷区进行蚀刻,以使得所述第一凹陷区的周边形成阶梯式的第二凹陷区。
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