发明名称 |
低温多晶硅薄膜晶体管及其制造方法 |
摘要 |
本发明实施例提供一种低温多晶硅薄膜晶体管及其制造方法,方法包括:在栅极金属层上制作形成层间介质层;在层间介质层上形成光阻层,并对光阻层进行第一次退光阻以露出第一面积的层间介质层;对第一面积的层间介质层进行蚀刻以形成第一凹陷区;对光阻层进行第二次退光阻以露出第二面积的层间介质层;对第二面积的层间介质层和第一凹陷区进行蚀刻,以使得第一凹陷区的周边形成阶梯式的第二凹陷区。本发明实施例通过在层间介质层设置阶梯式的凹陷区通道,使得在凹陷区通道内制作源极、漏极金属层时,可以避免凹陷区通道的棱角触碰造成断线的问题,也可以避免源极、漏极金属无法填满凹陷区通道而形成空隙、导致产品可靠度低的技术问题。 |
申请公布号 |
CN104617132A |
申请公布日期 |
2015.05.13 |
申请号 |
CN201410856397.4 |
申请日期 |
2014.12.31 |
申请人 |
深圳市华星光电技术有限公司 |
发明人 |
卢昶鸣 |
分类号 |
H01L29/06(2006.01)I;H01L29/786(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/06(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 |
代理人 |
何青瓦 |
主权项 |
一种低温多晶硅薄膜晶体管的制造方法,其特征在于,所述制造方法包括:在栅极金属层上采用包括氧化硅和氮化硅材料制作形成层间介质层;在所述层间介质层上形成光阻层,并对所述光阻层进行第一次退光阻以露出第一面积的层间介质层;对所述第一面积的层间介质层进行蚀刻以形成第一凹陷区;对所述光阻层进行第二次退光阻以露出第二面积的层间介质层,其中,所述第一凹陷区位于所述第二面积的层间介质层中;对所述第二面积的层间介质层和所述第一凹陷区进行蚀刻,以使得所述第一凹陷区的周边形成阶梯式的第二凹陷区。 |
地址 |
518000 广东省深圳市光明新区公明办事处塘家社区观光路汇业科技园综合楼1第一层B区 |