发明名称 |
等离子体掺杂装置及等离子体掺杂方法 |
摘要 |
本发明提供的等离子体掺杂装置及等离子体掺杂方法,有助于基于等离子体掺杂的杂质注入的实用化。用于向半导体基板(W)添加杂质的等离子体掺杂装置(10)具备:腔室(12);气体供给部(14),用于向腔室(12)供给气体;及等离子体源(16),用于在腔室(12)产生所供给的气体的等离子体。包括含有应添加到基板(W)的杂质元素的原料气体、氢气及用于稀释原料气体的稀释气体的混合气体供给至腔室(12)。 |
申请公布号 |
CN102339737B |
申请公布日期 |
2015.05.13 |
申请号 |
CN201110199347.X |
申请日期 |
2011.07.15 |
申请人 |
住友重机械工业株式会社;斯伊恩股份有限公司 |
发明人 |
田中胜;栗山仁;室冈博树 |
分类号 |
H01L21/265(2006.01)I;H01L21/223(2006.01)I;H01J37/32(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/265(2006.01)I |
代理机构 |
永新专利商标代理有限公司 72002 |
代理人 |
夏斌;陈萍 |
主权项 |
一种等离子体掺杂装置,用于向半导体基板添加杂质,其特征在于,具备:腔室;气体供给部,用于向所述腔室供给气体;及等离子体源,用于在所述腔室产生已供给的气体的等离子体,所述气体供给部构成为将混合气体供给至所述腔室,所述混合气体包含:含有应添加至基板的杂质元素的原料气体;氢气;及用于稀释所述原料气体的稀释气体,应添加至所述基板的杂质元素,通过使用偏置电源在所述基板产生的电位而被加速,并被注入到所述基板,所述氢气相对于所述混合气体的流量比为20%以下,所述混合气体包含稀释为低浓度的所述原料气体、和浓度高于该原料气体的所述氢气,剩余部分实际上为所述稀释气体,所述原料气体相对于所述混合气体的流量比处于0.1%至0.3%的范围。 |
地址 |
日本东京都 |