发明名称 |
链路测试方法及装置 |
摘要 |
本发明公开了一种链路测试方法及装置,该方法包括:通过测试工装子卡对第一测试链路进行测试,得到第一测试数据;以及通过测试工装子卡对第二测试链路进行测试,得到第二测试数据;其中,第一测试链路及第二测试链路为具有公共节点但不连通的两条链路;通过第一测试工装对连接器进行校验得到第一校验数据;通过第二测试工装使第一测试链路及第二测试链路连通,并对第二测试工装进行自校验,得到第二校验数据;根据第一测试数据、第二测试数据、第一校验数据、第二校验数据得到第一测试链路与第二测试链路互联的测试结果。本发明通过上述方法在可变拓扑网络中实现更灵活的测试方式,无需额外重新设计系统硬件,节省了开发时间和成本。 |
申请公布号 |
CN104618185A |
申请公布日期 |
2015.05.13 |
申请号 |
CN201510047674.1 |
申请日期 |
2015.01.29 |
申请人 |
曙光云计算技术有限公司;曙光信息产业(北京)有限公司 |
发明人 |
任雪玉;陈进;张迪;杨晓君;李婧;曾义和 |
分类号 |
H04L12/26(2006.01)I |
主分类号 |
H04L12/26(2006.01)I |
代理机构 |
北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 |
代理人 |
章社杲;卢军峰 |
主权项 |
一种链路测试方法,其特征在于,包括:通过测试工装子卡对第一测试链路进行测试,得到第一测试数据;以及通过测试工装子卡对第二测试链路进行测试,得到第二测试数据;其中,所述第一测试链路及所述第二测试链路为具有公共节点但不连通的两条链路;通过第一测试工装对连接器进行校验得到第一校验数据;通过第二测试工装使所述第一测试链路及所述第二测试链路连通,并对所述第二测试工装进行自校验,得到第二校验数据;根据所述第一测试数据、所述第二测试数据、所述第一校验数据、所述第二校验数据得到所述第一测试链路与所述第二测试链路互联的测试结果。 |
地址 |
100193 北京市海淀区东北旺西路8号院36号楼5层 |