发明名称 |
隔离型NLDMOS器件及其制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种隔离型NLDMOS器件,在P型硅衬底上形成有两个独立的N型深阱;左N型深阱左部形成有一P阱;P阱右部上方及左N型深阱右部上方,形成有栅氧化层;左N型深阱同右N型深阱之间的P型硅衬底上方,及右N型深阱左部上方,形成有场氧;场氧下方的P型硅衬底及右N型深阱中,形成有漂移P型注入区;层间介质覆盖在器件表面;漂移P型注入区近右N型深阱左侧处,接穿过层间介质、场氧及右N型深阱的漂移区金属;所述漂移区金属,同右N型深阱之间有氧化层隔离。本发明还公开了该种隔离型NLDMOS器件的制造方法。本发明,当隔离型NLDMOS器件漏端加交流信号由高电压降到低电压时,能实现输出电流无延时。 |
申请公布号 |
CN104617148A |
申请公布日期 |
2015.05.13 |
申请号 |
CN201510048190.9 |
申请日期 |
2015.01.30 |
申请人 |
上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
段文婷;钱文生 |
分类号 |
H01L29/78(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 |
上海浦一知识产权代理有限公司 31211 |
代理人 |
王江富 |
主权项 |
一种隔离型NLDMOS器件,其特征在于,在P型硅衬底上形成有左N型深阱、右N型深阱两个独立的N型深阱;所述左N型深阱,左部形成有一P阱;所述P阱,左部形成有一P型重掺杂区及一源端N型重掺杂区;所述P阱右部上方及所述左N型深阱右部上方,形成有栅氧化层;所述左N型深阱同所述右N型深阱之间的P型硅衬底上方,及所述右N型深阱左部上方,形成有场氧;所述右N型深阱,右部形成有一漏端N型重掺杂区;所述场氧左部上方及所述栅氧化层上方,形成有栅极多晶硅;所述场氧下方的P型硅衬底及右N型深阱中,形成有漂移P型注入区;层间介质覆盖在器件表面;所述P型重掺杂区同所述源端N型重掺杂区,同接穿过层间介质的源端金属;所述漏端N型重掺杂区,接穿过层间介质的漏端金属;所述漂移P型注入区近右N型深阱左侧处,接穿过层间介质、场氧及右N型深阱的漂移区金属;所述漂移区金属,同右N型深阱之间有氧化层隔离。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 |