发明名称 超快光脉冲时间波形的测量装置
摘要 一种超快光脉冲时间波形的测量装置,实现了对现有的基于光电转换的传统条纹相机的突破,提供同时具有皮秒量级的时间分辨率、百个皮秒量级的可测时间跨度以及10<sup>3</sup>-10<sup>5</sup>的可测量动态范围。该装置主要包括光波导单元,泵浦光系统和高动态范围的读出系统,其中光波导单元的功能层采用的是Al<sub>0.24</sub>Ga<sub>0.76</sub>As/GaAs/Al<sub>0.24</sub>Ga<sub>0.76</sub>As/GaAs/Al<sub>0.24</sub>Ga<sub>0.76</sub>As结构,两个GaAs芯层组成了MZ干涉仪的两条臂。本发明的最大的优点在于,解决了现有技术难以同时具备大的动态范围、时间分辨率和可测量时间跨度以及真空器件稳定性和可靠性差等技术问题。
申请公布号 CN103196570B 申请公布日期 2015.05.13
申请号 CN201310103586.X 申请日期 2013.03.27
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 吴正香;董明明;李国扬;范薇
分类号 G01J11/00(2006.01)I 主分类号 G01J11/00(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 张泽纯
主权项 一种超快光脉冲时间波形的测量装置,其特征在于该装置的构成:在信号光的光路上依次设置第一柱透镜(2)、砷化镓光波导、第二柱透镜(11)和高分辨的线阵列探测器(12),在砷化镓光波导的正上方设置第二柱透镜(14),泵浦光(3)经第三柱透镜(14)聚焦成一条线光斑(5)垂直入射到所述的光波导里,所述的线光斑(5)与线形信号光的的通光方向的夹角为θ,所述的砷化镓光波导的构成为铝镓砷/砷化镓/铝镓砷/砷化镓/铝镓砷/砷化镓衬底(6、7、8、9、10、13),具体为Al<sub>0.24</sub>Ga<sub>0.76</sub>As/GaAs/Al<sub>0.24</sub>Ga<sub>0.76</sub>As/GaAs/Al<sub>0.24</sub>Ga<sub>0.76</sub>As/GaAs,其中两层GaAs构成两个光波导的芯层(7、9),三层Al<sub>0.24</sub>Ga<sub>0.76</sub>As分别构成两个光波导的包层(6、8、10),两个GaAs芯层是马泽赫德(MZ)干涉仪的两臂(7、9);所述的泵浦光(3)的波长范围在776nm~874nm之间,能量密度在50uJ/cm<sup>2</sup>~300uJ/cm<sup>2</sup>之间,所述的泵浦光与信号光的通光方向的夹角θ为5°~60°。
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