发明名称 半导体结构之一层中之密封气隙之方法及半导体结构
摘要
申请公布号 TWI484593 申请公布日期 2015.05.11
申请号 TW098112880 申请日期 2009.04.17
申请人 飞思卡尔半导体公司 发明人 贝克曼 桂格;欧罗斯基 玛里雅斯;威尔德 安德亚斯
分类号 H01L21/764;H01L21/768 主分类号 H01L21/764
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种在一半导体结构之一层(2)中密封一气隙(6)的方法,该方法包括:提供该半导体结构之一第一层(2),该第一层具有至少一个气隙(6),用于在形成于该第一层中之至少两个导线(4)之间提供隔离,该至少一个气隙从该第一层之一第一表面(8)延伸至该第一层中;在该第一层(2)之该第一表面(8)上形成一非保形第一介电层(14),使得该第一介电层(14)之部分塞住该气隙(6)以封闭该至少一个气隙(6);在该第一介电层(14)上形成一由阻障电介质材料制成的阻障层(10、16),该阻障电介质材料经选定以具有一小于3.5的介电常数,及提供一阻障以防止化学物质进入该至少一个气隙(6)。
地址 美国
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