发明名称 测试积体电路用之装置中的分离测试电子以及风机模组
摘要
申请公布号 TWI484199 申请公布日期 2015.05.11
申请号 TW099114534 申请日期 2010.05.06
申请人 艾尔测试系统 发明人 韩德里克森 大卫S;乔凡诺维克 乔凡;里奇蒙二世 唐纳德P;巴洛克拉夫 威廉D
分类号 G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项 一种用于测试电子元件之积体电路的装置,所述装置包含:测试电子框架;电源;电力电路径,其将所述电源连接至所述电子元件上之电力接点;信号源;多个信号电路径,其各自将所述信号源连接至所述电子元件上之各别信号接点,所述电源以及所述信号源位于所述测试电子框架中且共同形成测试电子模组之一部分;以及风机框架;紧固至所述风机框架之风机轴承座架;风机,其安装至所述风机框架且共同为风机模组之一部分,其中所述风机包括:风机轴承,其由所述风机轴承座架固持着;风机输入轴,其由所述风机轴承固持着且可相对于所述风机轴承座架而旋转;以及风扇,其安装于所述轴上以随所述轴一起旋转;所述测试电子模组以及所述风机框架形成装置框架且以可移除方式互相安装着,所述风机将空气吹过所述装置框架之至少一部分。
地址 美国