发明名称 抵抗変化型不揮発性記憶素子とその製造方法
摘要 <p>第1電極層(101)と、第2電極層(104)と、第1電極層(101)と第2電極層(104)との間に介在する第1の抵抗変化層(102)と、第2電極層(104)と、第1の抵抗変化層(102)との間に介在し、第1の抵抗変化層(102)よりも抵抗値の大きい第2の抵抗変化層(103)とを備え、第2の抵抗変化層(103)の主面に垂直な方向から見た場合に、第2の抵抗変化層(103)の輪郭(103a)は、第2電極層(104)及び第1の抵抗変化層(102)のいずれの輪郭よりも内側に位置しており、第2の抵抗変化層(103)の第1の抵抗変化層(102)と接する面の輪郭は、第1の抵抗変化層(102)の第2の抵抗変化層(103)と接する面の輪郭よりも内側に位置している。</p>
申请公布号 JPWO2013111545(A1) 申请公布日期 2015.05.11
申请号 JP20130540124 申请日期 2013.01.18
申请人 发明人
分类号 H01L27/105;H01L45/00;H01L49/00 主分类号 H01L27/105
代理机构 代理人
主权项
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