发明名称 高周波半導体装置およびその製造方法
摘要 <p>半導体基板の一方の面に、当該一方の面の側から順に、第1絶縁層、柱状結晶状のノンドープのエピタキシャル・ポリシリコン層、第2絶縁層、および、半導体層が形成され、前記第2絶縁層を介して前記ノンドープのエピタキシャル・ポリシリコン層に臨む前記半導体層の位置に、高周波トランジスタが形成されている、高周波半導体装置。</p>
申请公布号 JPWO2013118618(A1) 申请公布日期 2015.05.11
申请号 JP20130557474 申请日期 2013.01.30
申请人 发明人
分类号 H01L21/336;H01L21/02;H01L21/3205;H01L21/768;H01L21/822;H01L21/8234;H01L23/522;H01L27/04;H01L27/06;H01L27/08;H01L27/088;H01L27/12;H01L29/786 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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