发明名称 化合物半导体装置及其制造方法
摘要
申请公布号 TWI484632 申请公布日期 2015.05.11
申请号 TW101125536 申请日期 2012.07.16
申请人 富士通股份有限公司 发明人 小谷淳二;石黑哲郎;苫米地秀一
分类号 H01L29/778;H01L21/205 主分类号 H01L29/778
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 一种化合物半导体装置,包含:一基材;一GaN化合物半导体多层结构,其设置在该基材上;及一应力释放层,其系以AlN为主且设置在该基材与该GaN化合物半导体多层结构之间,其中与该GaN化合物半导体多层结构接触之该应力释放层之一表面具有多数凹部,且该等凹部具有一5nm以上之深度且系以一2×1010cm-2以上之数量密度形成。
地址 日本
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