发明名称 Messung der Nachgiebigkeit
摘要 Verfahren zur Qualitätsbestimmung oder Bestimmung einer Einflussgröße auf die Qualität einer Bondverbindung auf einem Substrat unter Einsatz eines Bondgerätes, das mit einem eingebauten Prüfwerkzeug mit einem Prüfwerkzeug-Antrieb und angeschlossener Niveau- und/oder Kraftmesseinrichtung ausgestattet ist, wobei zur Prüfung der Nachgiebigkeit eines vorbestimmten Abschnitts des Substrats der Prüfwerkzeug-Antrieb derart gesteuert wird, dass das Prüfwerkzeug mit definierter Antriebskraft auf das Substrat gedrückt wird, und mittels der Niveaumesseinrichtung eine zeitabhängige Erfassung der Z-Koordinate des Prüfwerkzeugs und/oder mittels der Kraftmesseinrichtung eine zeitabhängige Erfassung der effektiven Andruckkraft ausgeführt wird.
申请公布号 DE102013222439(A1) 申请公布日期 2015.05.07
申请号 DE201310222439 申请日期 2013.11.05
申请人 F&K DELVOTEC SEMICONDUCTOR GMBH 发明人 SEDLMAIR, JOSEF
分类号 G01N3/00;G01N3/24;G01N19/04 主分类号 G01N3/00
代理机构 代理人
主权项
地址