发明名称 IGZO基氧化物材料和制备IGZO基氧化物材料的方法
摘要 本发明提供IGZO基氧化物材料和制备IGZO基氧化物材料的方法,所述IGZO基氧化物材料由组成式In<sub>2-x</sub>Ga<sub>x</sub>ZnO<sub>4-δ</sub>表示,其中0.75<x<1.10并且0<δ≤1.29161×exp(-x/0.11802)+0.00153,并且所述IGZO基氧化物材料由具有YbFe<sub>2</sub>O<sub>4</sub>的晶体结构的IGZO的单相形成。
申请公布号 CN101930805B 申请公布日期 2015.05.06
申请号 CN201010209336.0 申请日期 2010.06.21
申请人 富士胶片株式会社 发明人 梅田贤一;铃木真之;田中淳
分类号 H01L29/786(2006.01)I;H01B1/08(2006.01)I;H01B13/00(2006.01)I 主分类号 H01L29/786(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 陈平
主权项 一种IGZO基氧化物材料,所述IGZO基氧化物材料由组成式In<sub>2‑x</sub>Ga<sub>x</sub>ZnO<sub>4‑δ</sub>表示,其中0.75<x<1.10并且0<δ≤1.29161×exp(‑x/0.11802)+0.00153,其中δ表示氧空位量,并且所述IGZO基氧化物材料由具有YbFe<sub>2</sub>O<sub>4</sub>的晶体结构的IGZO的单相形成,其中所述IGZO基氧化物材料的电阻率的值为1×10<sup>2</sup>Ω·cm至1×10<sup>9</sup>Ω·cm。
地址 日本国东京都