发明名称 一种由分割计算圆柱型谐振腔Q<sub>t</sub>值来确定沉积台的方法
摘要 本发明涉及一种由分割计算圆柱型谐振腔Q<sub>t</sub>值来确定沉积台的方法,方法步骤包括:(1)在圆柱型谐振腔模型中建立轴坐标,确定旋度方程;(2)将谐振腔内部的空间进行划分;(3)分块计算类品质因数Q<sub>t</sub>;(4)谐振腔内部等离子区具体位置的确定;(5)沉积台位置的确定。本发明准确的判断圆柱型谐振腔内部的电场强度的分布情况,反映出谐振腔内等离子体区域的具体形状,合理设计沉积台的位置,利于金刚石的膜生长。
申请公布号 CN104598677A 申请公布日期 2015.05.06
申请号 CN201510010068.2 申请日期 2015.01.08
申请人 天津工业大学 发明人 王辅忠;李培;张光璐;张慧春
分类号 G06F17/50(2006.01)I 主分类号 G06F17/50(2006.01)I
代理机构 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 代理人 韩奎勇
主权项 一种由分割计算圆柱型谐振腔Q<sub>t</sub>值来确定沉积台的方法,其特征在于方法步骤如下:(1)在圆柱型谐振腔模型中建立轴坐标,确定旋度方程;其中,轴坐标的轴线z与圆柱型谐振腔的中轴重合,z轴的零点为圆柱型谐振腔底面的圆心,在应用轴坐标的情况下,圆柱型谐振腔内磁场强度H和电场强度E的旋度方程为:<img file="FDA0000653130270000011.GIF" wi="608" he="142" /><img file="FDA0000653130270000012.GIF" wi="588" he="147" /><img file="FDA0000653130270000013.GIF" wi="714" he="143" /><img file="FDA0000653130270000014.GIF" wi="514" he="143" /><img file="FDA0000653130270000015.GIF" wi="460" he="147" /><img file="FDA0000653130270000016.GIF" wi="565" he="142" />在上式中:H为磁场强度,E为电场强度,r为圆柱型谐振腔的半径,ε为电常数,μ为磁常数;(2)将谐振腔内部的空间进行划分;具体划分方法为:以坐标z轴的零点为基准点,等比例增加高度以及圆柱形的半径,将腔体分割成一系列不同高度和半径的同轴圆柱体;(3)分块计算类品质因数Q<sub>t</sub>;根据上述步骤(2)划分的空间,分块计算类品质因数Q<sub>t</sub>,计算公式如下:<img file="FDA0000653130270000017.GIF" wi="417" he="205" />在上式中,分子为每一个划分的小圆柱体内电场强度E的平方和,分母为整个谐振腔内部的全部空间电场强度的平方和,通过不同区域类品质因数Q<sub>ti</sub>值的变化,清楚的描绘出在谐振腔内部的电场强弱的分布;(4)谐振腔内部等离子区具体位置的确定;在划分的某两个连续区域之间,当Q<sub>ti</sub>值发生明显过渡,则两区域的边界线做为等离子区的划分线,对于圆柱型谐振腔,在靠近谐振腔底部位置,电场强度大的一侧区域即为等离子区;(5)沉积台位置的确定;利用步骤(4)得出等离子区的位置后,根据等离子区的高度设计沉积台的高度,等离子区的下部区分线即为沉积台的高度,等离子区的宽度即为沉积台的宽度。
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