发明名称 |
一种带有IPD的TSV孔结构及其加工方法 |
摘要 |
本发明提供了一种带有IPD的TSV孔结构,采用传统的TSV工艺流程,通过结构设计,使得TSV孔的结构简单,在保证TSV孔简单成型的同时实现了电阻、电容、电感的TSV转接板结构,提高转接板性能,其包括硅晶圆体,其特征在于:所述硅晶圆体上设置有多个TSV通孔,所述TSV通孔内连同硅晶圆体表面沉积有绝缘层,所述TSV通孔中至少一个TSV通孔内设置有横向绝缘层,形成TSV通孔上下隔断,所述TSV通孔内电镀金属层,所述TSV通孔上的所述金属层上下端交错互连,所述硅晶圆体表面成型环状电镀金属层,所述环状电镀金属层与所述TSV通孔内电镀金属层互连,本发明同时提供了一种带有IPD的TSV孔结构的加工方法。 |
申请公布号 |
CN104600059A |
申请公布日期 |
2015.05.06 |
申请号 |
CN201510055003.X |
申请日期 |
2015.02.03 |
申请人 |
华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
发明人 |
靖向萌 |
分类号 |
H01L23/522(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/522(2006.01)I |
代理机构 |
上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258 |
代理人 |
任益 |
主权项 |
一种带有IPD的TSV孔结构,其包括硅晶圆体,其特征在于: 所述硅晶圆体上设置有多个TSV通孔,所述TSV通孔内连同硅晶圆体表面沉积有绝缘层,所述TSV通孔中至少一个TSV通孔内设置有横向绝缘层,形成TSV通孔上下隔断,所述TSV通孔内电镀金属层,所述TSV通孔上的所述金属层上下端交错互连,所述硅晶圆体表面成型环状电镀金属层,所述环状电镀金属层与所述TSV通孔内电镀金属层互连。 |
地址 |
214135 江苏省无锡市菱湖大道200号中国传感网国际创新园D1栋 |