发明名称 |
一种内存测试分析系统 |
摘要 |
本发明提供一种内存测试分析系统,包括:测试数据库,用于存储来自AT测试设备及ET测试设备的内存测试结果的原始数据;数据分析模块,用于根据所述原始数据生成运算分析结果;显示模块,用于显示所述运算分析结果,以供区分真性不良与假性不良;查询模块,用于将所述运算分析结果按AT测试及ET测试划分分类,以供分类查询;全自动化作业系统替代了人工操作,自动导出数据,直观反映数据图表;通过内存测试分析系统与原有人工整理数据对比的差异性,减少量产异常Fail;根据SPD信息的唯一性(Serial NO.)可以确保每一个产品的信息有据可依;根据内存测试分析系统的数据查询,量产收率的真实性与精确性大大提高。 |
申请公布号 |
CN104599719A |
申请公布日期 |
2015.05.06 |
申请号 |
CN201410775071.9 |
申请日期 |
2014.12.15 |
申请人 |
海太半导体(无锡)有限公司 |
发明人 |
沈泽斌 |
分类号 |
G11C29/56(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/56(2006.01)I |
代理机构 |
无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262 |
代理人 |
杨虹 |
主权项 |
一种内存测试分析系统,其特征在于,包括:测试数据库,用于存储来自AT测试设备及ET测试设备的内存测试结果的原始数据;数据分析模块,用于根据所述原始数据生成运算分析结果;显示模块,用于显示所述运算分析结果,以供区分真性不良与假性不良;查询模块,用于将所述运算分析结果按AT测试及ET测试划分分类,以供分类查询。 |
地址 |
214000 江苏省无锡市无锡市高新区综合保税区K5、K6地块 |