发明名称 检测电路的方法
摘要 一种检测电路的方法,其提供一分组给一产线,于产线中定位分组,经定位的分组进行检出,并产生一检出结果,并输出检出结果,分组是以不指定顺序给予待处理工作负荷量最少的产线,以达到最大产能,并且能够边扫描边检出。
申请公布号 CN103323467B 申请公布日期 2015.05.06
申请号 CN201210233304.3 申请日期 2012.07.06
申请人 财团法人工业技术研究院 发明人 郑智杰;吕尚杰;黄国唐
分类号 G01N21/956(2006.01)I 主分类号 G01N21/956(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 陈小雯
主权项 一种检测电路的方法,其步骤包含有:提供一分组给一产线;于该产线中定位该分组;经定位的分组进行检出,并产生一检出结果;以及输出该检出结果,其中该分组于定位前需要一定位前处理,该定位前处理的步骤包含有:输入一待测影像,由所提供的分组中取得该待测影像;水平投影该待测影像;计算一水平标准差,由该水平投影的待测影像中计算出该水平标准差,该水平标准差为一第一值;垂直投影该待测影像;统计一异色区域,由该垂直投影的待测影像中统计出一白色区域与一黑色区域;计算一垂直标准差,由该垂直投影的待测影像中计算出该垂直标准差,该垂直标准差为一第二值;该白色区域是否大于一第一阈值,若是,该待测影像为一全白影像,进行一参考定位;若否,进行一该黑色区域是否大于一第二阈值;该黑色区域是否大于一第二阈值,若是,该待测影像为一全黑影像,进行该参考定位;若否,进行该第一值是否小于一第一参数;该第一值是否小于一第一参数,若是,该待测影像为一水平线条,进行该参考定位;若否,进行该第二值是否小于一第二参数;该第二值是否小于一第二参数,若是,该待测影像为一垂直线条,进行该参考定位;若否,进行该第一值是否等于该第二值;以及该第一值与第二值的绝对差值是否小于第三参数,若是,该待测影像为一斜线条,进行该参考定位;若否,进行该定位。
地址 中国台湾新竹县