| 发明名称 | 检测彩膜表面形貌的方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种检测彩膜表面形貌的方法及装置，其中的装置包括相对设置的光源和光线探测器，还包括：第一导轨；可沿第一导轨移动的底座；固定在所述底座上、延伸方向与所述第一导轨平行的第二导轨；所述光线探测器与所述第二导轨相连，并可沿所述第二导轨延伸方向移动；所述第一导轨上设有用于使所述底座上的第二导轨与彩膜基板上的每一单色亚像素对齐的多个第一固定点；所述第二导轨上设有用于使所述光线探测器对准彩膜基板上每一单色亚像素中多个位置点的多个第二固定点。本发明可以实现单色亚像素的色度值和表面形貌信息的同时测量。 | ||
| 申请公布号 | CN104596441A | 申请公布日期 | 2015.05.06 |
| 申请号 | CN201510050787.7 | 申请日期 | 2015.01.30 |
| 申请人 | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 | 发明人 | 郭杨辰;袁剑峰 |
| 分类号 | G01B11/24(2006.01)I;G01J3/46(2006.01)I | 主分类号 | G01B11/24(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人 | 李相雨 |
| 主权项 | 一种检测彩膜表面形貌的装置，包括相对设置的光源和光线探测器，其特征在于，该装置还包括：第一导轨；可沿第一导轨移动的底座；固定在所述底座上、延伸方向与所述第一导轨平行的第二导轨；所述光线探测器与所述第二导轨相连，并可沿所述第二导轨延伸方向移动；所述第一导轨上设有用于使所述底座上的第二导轨与彩膜基板上的每一单色亚像素对齐的多个第一固定点；所述第二导轨上设有用于使所述光线探测器对准彩膜基板上每一单色亚像素中多个位置点的多个第二固定点。 | ||
| 地址 | 100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 | ||