发明名称 制备超饱和硫系元素掺杂硅的方法
摘要 一种制备超饱和硫系元素掺杂硅的方法,包括如下步骤:步骤1:选择一衬底;步骤2:对衬底表面进行制绒;步骤3:对制绒后的衬底进行超饱和硫系元素离子注入;步骤4:对硫系元素离子注入后的衬底进行激光退火,消除离子注入产生的晶格缺陷,完成制备。本发明形成的超饱和硫系元素掺杂硅表面,既保证了良好的电极接触,又对入射光具有一定的减反射作用,对于制作高响应红外探测器特别有利。
申请公布号 CN102938435B 申请公布日期 2015.05.06
申请号 CN201210484770.9 申请日期 2012.11.23
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 王科范;刘孔;曲胜春;王占国
分类号 H01L31/18(2006.01)I;H01L31/0224(2006.01)I 主分类号 H01L31/18(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 汤保平
主权项 一种制备超饱和硫系元素掺杂硅的方法,包括如下步骤:步骤1:选择一衬底,该衬底的材料为硅单晶片,其晶面取向为(001),双面抛光,p型硼掺杂,电阻率为1‑10Ωcm,晶片厚度为390±20μm;步骤2:对衬底表面进行制绒,在衬底表面经清洗去污之后,使用组分为NaOH∶异丙醇(IPA)∶水=2g∶4ml∶45ml的刻蚀液在80℃对衬底制绒40分钟,使衬底表面布满金字塔减反射结构;步骤3:对制绒后的衬底进行超饱和硫系元素离子注入,所述注入能量为200kev,注入剂量为1×10<sup>16</sup>cm<sup>‑2</sup>,注入深度为240nm,峰值浓度为6×10<sup>20</sup>cm<sup>‑3</sup>,以使得硅衬底中的注入原子的浓度为5×10<sup>19</sup>cm<sup>‑3</sup>‑1×10<sup>21</sup>cm<sup>‑3</sup>,相对应的原子百分比为0.1%‑10%,所述硫系元素包括硫、硒或碲;步骤4:对硫系元素离子注入后的衬底进行激光退火,消除离子注入产生的晶格缺陷,其是采用248nm的KrF激光器,输出脉冲宽度为20ns,光束形状为3mm×1mm矩形,平均每点的脉冲数为4个,能量密度选用为1.4J/cm2,从而在消除离子注入产生的晶格缺陷的同时,避免在硅衬底表面刻蚀出尖锐的表面微结构,完成制备。
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