发明名称 |
磁共振弥散张量成像的去噪方法和系统 |
摘要 |
本发明提供了一种磁共振弥散张量成像的去噪方法和系统,其方法基于磁共振弥散加权成像模型和采样噪声的高斯分布性质,利用平均弥散率的稀疏性,采用最大后验概率估计的方法直接由K空间数据获得每一个空间位置所对应的去噪后的弥散张量矩阵。本发明可以避免图像去噪的误差对弥散张量估计的影响,可以更有效地抑制弥散张量中的噪声,提高弥散张量的估计精度。 |
申请公布号 |
CN104599244A |
申请公布日期 |
2015.05.06 |
申请号 |
CN201410816610.9 |
申请日期 |
2014.12.23 |
申请人 |
中国科学院深圳先进技术研究院 |
发明人 |
彭玺;梁栋;刘新;郑海荣 |
分类号 |
G06T5/00(2006.01)I;A61B5/055(2006.01)I |
主分类号 |
G06T5/00(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
吴平 |
主权项 |
一种磁共振弥散张量成像的去噪方法,其包括:图像数据获取步骤:获取磁共振弥散加权图像所对应的K空间数据;去噪步骤:基于磁共振弥散加权成像模型和采样噪声的高斯分布性质,利用平均弥散率的稀疏性,采用最大后验概率估计的方法由所述K空间数据获得每一个空间位置所对应的去噪后的弥散张量矩阵;弥散参数计算步骤:基于所述去噪后的弥散张量矩阵,获得弥散参数图。 |
地址 |
518055 广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号 |