发明名称 一种用于SRAM型FPGA的快速可靠性评估方法
摘要 本发明具体提供了一种用于SRAM型FPGA的快速可靠性评估方法,包括步骤:1)将待处理的VHD源程序按照VHDL硬件语言的设计规则所确定的模块划分准则划分成L个模块;2)结合硬件设计工具ISE,对该L个模块依次进行综合、映射、布局布线及生成XDL文件操作;3)用概率分析法,粗算得到各模块的软错误率并将其添加到粗算集合C<sub>1</sub>;4)对C<sub>1</sub>采用最大类间方差算法OSTU选取阈值δ;将软错误率大于δ的模块添加到细算集合C<sub>2</sub>中;5)对细算集合C<sub>2</sub>中各模块分别采用蒙特卡洛法进行软错误率SER的精确计算,并将结果从大到小保存于防护集合S中。本发明在保证计算精度的同时,能够尽可能的减少在SRAM型FPGA的可靠性评估过程中的计算时间。
申请公布号 CN104598352A 申请公布日期 2015.05.06
申请号 CN201510012002.7 申请日期 2015.01.08
申请人 西安空间无线电技术研究所;西安电子科技大学 发明人 朱启;郭宝龙;高翔;闫允一;赖晓玲;吴进福
分类号 G06F11/26(2006.01)I 主分类号 G06F11/26(2006.01)I
代理机构 西安智萃知识产权代理有限公司 61221 代理人 张超
主权项 一种适用于SRAM型FPGA的快速可靠性评估方法,其特征在于:包括如下步骤:(1)根据VHDL硬件语言的设计规则,确定模块划分准则,并将待处理的VHD源程序按照模块划分准则划分成L个模块;(2)结合硬件设计工具ISE,对划分后的L个模块依次进行综合、映射、布局布线以及生成XDL文件操作;(3)利用概率分析法对L个模块的XDL文件进行分析,粗算得到各模块的软错误率SER并将其添加到粗算集合C<sub>1</sub>,即C<sub>1</sub>={SER<sub>1</sub>,SER<sub>2</sub>,…,SER<sub>L</sub>},其中,SER<sub>i</sub>表示粗算得到的第i个模块的软错误率;(4)对粗算集合C<sub>1</sub>采用最大类间方差算法OSTU选取阈值δ;若第i个模块的软错误率大于阈值δ,即SER<sub>i</sub>≥δ,1≤i≤L,则认为该模块需进行软错误率SER的精确计算,将其添加到细算集合C<sub>2</sub>中;(5)对细算集合C<sub>2</sub>中各模块分别采用蒙特卡洛法进行软错误率SER的精确计算,并将计算结果按照从大到小保存于防护集合S中;防护集合S用于指导可靠性优化。
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