一种芯片最高工作频率的确定方法及装置

摘要

本发明实施例公开了一种芯片最高工作频率的确定方法及装置，该方法包括在对芯片进行自动测试机ATE测试时，芯片最高工作频率的确定装置首先获取在固定电压及固定温度下传感器模块的目标输出值，然后从预先获取到的对应关系中确定目标输出值对应的目标工作频率，以作为上述芯片的最高工作频率，其中，上述对应关系为上述芯片在根据设计需求确定出的目标电压及目标温度下工作频率与传感器模块的输出区间值之间的对应关系，且上述芯片中集成有用于反映芯片的最高工作频率的传感器模块。实施本发明实施例能够快速的确定出待测芯片的最高工作频率，且成本较低。

主权项

一种芯片最高工作频率的确定方法，其特征在于，所述芯片中集成有用于反映所述芯片的最高工作频率的传感器模块，所述方法包括：在对所述芯片进行自动测试机ATE测试时，获取在固定电压及固定温度下所述传感器模块的目标输出值；从预先获取到的对应关系中确定所述目标输出值对应的目标工作频率，以作为所述芯片的最高工作频率，所述对应关系为所述芯片在目标电压及目标温度下工作频率与所述传感器模块的输出区间值之间的对应关系，所述目标电压为根据设计需求确定出的电压，所述目标温度为根据设计需求确定出的温度。