发明名称 半导体结构及其制造方法
摘要
申请公布号 TWI483297 申请公布日期 2015.05.01
申请号 TW101121550 申请日期 2012.06.15
申请人 南亚科技股份有限公司 发明人 俞建安;张原菘;陈凤鴒;简俊弘
分类号 H01L21/28;H01L21/8242;H01L21/768 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人 吴丰任 新北市永和区福和路389号6楼之3;戴俊彦 新北市永和区福和路389号6楼之3
主权项 一种半导体结构,包含有:一半导体基底,其上具有复数个深沟渠及位于该复数个深沟之间的复数个柱体结构,其中各该柱体结构包含一上部及一下部;一掺杂区,位于各该柱体结构的该下部,其中该掺杂区系被复数个绝缘沟槽区隔成复数条埋藏数位线;以及一扩散阻障层,位于该下部的一侧壁上。
地址 桃园市龟山区华亚科技园区复兴三路669号