遮罩薄膜及使用此之偏光式３Ｄ影像显示薄膜之检查方法

摘要

本发明系提供：偏光式3D影像显示薄膜利用正交偏光法进行的图案检查性优异之遮罩薄膜、及使用此之偏光式3D影像显示薄膜之检查方法。本发明的遮罩薄膜系具备有：基材薄膜、与在上述基材薄膜上形成的黏着层，且上述基材薄膜的面内方向相位差值系650nm以下。本发明的偏光式3D影像显示薄膜之检查方法，系包括有以下步骤：在上述偏光式3D影像显示薄膜表面，贴合上述遮罩薄膜之上述黏着层面侧的步骤；以及检查上述偏光式3D影像显示薄膜的步骤。