发明名称 光学检测机
摘要 一种光学检测机,适用检测一未黏贴偏光片的液晶面板半成品,并包含一平台单元、一探针模组、一巨观检测模组及一微观检测模组。平台单元承载未黏贴偏光片的液晶面板半成品。探针模组电连接未黏贴偏光片的液晶面板半成品。巨观检测模组检验未黏贴偏光片的液晶面板半成品,并包括一低倍率镜头、一第一偏光片、一光源及一第二偏光片。微观检测模组检验未黏贴偏光片的液晶面板半成品,并包括一高倍率镜头、一第一偏光片、一旋转单元、一光源及一第二偏光片。使得未黏贴偏光片的液晶面板半成品未进行下一步骤,检验瑕疵,从而提升良率。
申请公布号 TW201516392 申请公布日期 2015.05.01
申请号 TW102139332 申请日期 2013.10.30
申请人 由田新技股份有限公司 UTECHZONE CO., LTD. 发明人 蔡鸿儒 TSAI, HONG JU;姚哲文 YAO, CHE WEN;徐铭锺 HSU, MING CHUNG
分类号 G01N21/88(2006.01);G02F1/13(2006.01) 主分类号 G01N21/88(2006.01)
代理机构 代理人 高玉骏杨祺雄
主权项
地址 新北市中和区连城路268号10楼之1 TW