| 发明名称 |
电子元件之翻转与测试方法;METHOD FOR REVERSING AND TESTING ELECTRONIC COMPONENTS |
| 摘要 |
本发明提供一种电子元件之翻转与测试方法，适用于翻转与测试系统，藉由翻转/测试座本体以及翻转单元，以提高电子元件的检测效率。 |
| 申请公布号 |
TW201516429 |
申请公布日期 |
2015.05.01 |
| 申请号 |
TW102139562 |
申请日期 |
2013.10.31 |
| 申请人 |
亚克先进科技股份有限公司 ARKTEK CO., LTD. |
发明人 |
林源记 LIN, YUAN CHI |
| 分类号 |
G01R31/26(2014.01) |
主分类号 |
G01R31/26(2014.01) |
| 代理机构 |
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代理人 |
康清敬 |
| 主权项 |
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| 地址 |
苗栗县头份镇中正一路173巷29号 TW |
