发明名称 検査装置
摘要 <p>微細な欠陥を検出しようとした場合、前述した照明領域の短軸方向の幅は短い方が望ましい。従来技術では、光をなんらかの方法で集束することで照明領域を形成する訳であるが、より幅の狭い照明領域を形成するのは容易ではない。それは、集束を担う光学素子自体が有する種々の収差や、光路に存在するその他の光学素子の収差、組み付け誤差等が線状照明の形成に望ましくない影響を与えるからである。従来技術では、この点に関する配慮が十分ではなかった。本発明は、光の波面を変更するシステムを有することを特徴とする。</p>
申请公布号 JPWO2013099468(A1) 申请公布日期 2015.04.30
申请号 JP20130551531 申请日期 2012.11.19
申请人 发明人
分类号 G01N21/956;G01J9/00;G01N21/84 主分类号 G01N21/956
代理机构 代理人
主权项
地址