高電圧技術の機器を試験するための試験システム及び方法

摘要

本発明は、独立請求項１の上位概念に記載されているような、高電圧技術の機器、特に分路リアクトル用の試験システムに関する。さらに、本発明は、並記された請求項５に記載の高電圧技術の機器を試験するためにこの試験システムによって実施可能な方法に関する。本発明の試験システムの抽象的な思想は、連続に調整可能なインダクタンスと、不連続なステップで調整可能な静電容量とを試験変圧器の二次側に設けることにある。本発明の試験システムを用いて実施可能な方法では、当該試験システム内の過少静電容量が、測定装置によって測定されたときに、コンデンサバンクの個々の静電容量が、反復プロセスによってオンにされるか、又は、過剰静電容量が、この測定装置によって測定されたときに、前もって確定された閾値が支配するまで、個々の静電容量がオフにされるという方法で、この試験システムの粗調整が、当該コンデンサバンクの不連続に調整可能な静電容量によって実施されるので、その後に当該試験システムの微調整が、連続に調整可能なインダクタンスによって実施される。したがって、これらの当該部品は、インダクタンスとして形成された試験用物体と一緒に直列共振回路を構成する。この直列共振回路は、その共振点に同調可能である。