发明名称 Messdaten-Auswahlverfahren für eine biometrische Vorrichtung, Lichtaustrittspositions-Ermittlungsverfahren für eine biometrische Vorrichtung und biometrische Vorrichtung
摘要 Messdaten-Auswahlverfahren für eine biometrische Vorrichtung, Lichtaustrittspositions-Ermittlungsverfahren für eine biometrische Vorrichtung und biometrische Vorrichtung Wenn bei dem Messdaten-Auswahlverfahren ein Vektor, der sich aus Messdaten y1 bis yN1 zusammensetzt, die für entsprechende Kombinationen einer Vielzahl von Lichtemissionspositionen, einer Vielzahl von Lichterfassungspositionen und einer Vielzahl von Auflösungszeiten in einer zeitaufgelösten Wellenform gewonnen worden sind, gegeben ist durch [Formel 1]ein Vektor, bei dem Bildpunktwerte von Lernbilddaten, die im Voraus als Beispiel für Innenbilddaten bereitgestellt werden, Komponenten sind, durch x gegeben ist und eine Systemmatrix zum Berechnen der Innenbilddaten aus den Messdaten y1 bis yN1 durch A1 gegeben ist, wird der Vektor y, der die folgenden bedingten Ausdrücke (2) und (3) erfüllt [Formel 2] min∥y∥00 (2)[Formel 3] ∥x – A1 Ty∥22 ≤&egr;2 (3)oder der den folgenden bedingten Ausdruck (4) erfüllt [Formel 4] min(∥y∥00 + &bgr;∥x – A1 Ty∥22 )(4) ...
申请公布号 DE112013003284(T5) 申请公布日期 2015.04.30
申请号 DE20131103284T 申请日期 2013.06.27
申请人 HAMAMATSU PHOTONICS K.K.;UNIVERSITY OF TSUKUBA 发明人 KUDO, HIROYUKI,;SAITO, NAOYA,;YOSHIMOTO, KENJI,;YAMASHITA, YUTAKA,;UEDA, YUKIO,
分类号 A61B10/00;G01N21/17 主分类号 A61B10/00
代理机构 代理人
主权项
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