| 摘要 |
Данное изобретение относится к устройству (1) для анализа оптического качества одной или нескольких, по меньшей мере, частично прозрачных подложек (2), например ленты стекла, движущейся мимо устройства (1), содержащему осветительную систему (4, 6) для формирования изображения в проходящем через подложку (2) свете и/или в отраженном от подложки (2) свете; камеру (12) для захвата изображения, проходящего и/или отраженного одной или несколькими подложками (2); и блок (14) управления, содержащий запоминающее устройство (15), в котором хранятся программы для управления захватом изображений посредством камеры (12), в котором осветительная система (4, 6) может одновременно создавать освещение различных типов в отдельных зонах освещения (8А, 8В, 8С, 10А, 10В, 10С), через которые подложка (2) или каждая подложка (2), как предполагается, проходит; камера (12) является матричной камерой и может захватывать изображение множеством рядов пикселей, причем устройство (1) сконфигурировано таким образом, что камера (12) может одновременно захватывать изображения множеством групп смежных рядов пикселей, соответствующих, соответственно, указанным отдельным зонам (8А, 8В, 8С, 10А, 10В, 10С); и указанные управляющие программы способны управлять камерой (12) таким образом, что различные захваты синхронизируются со скоростью движения одной или нескольких подложек (2) таким образом, что по меньшей мере одна данная фиксированная точка на подложке (2) является объектом изображения, захваченного первой из указанных групп рядов пикселей, и по меньшей мере изображения, захваченного второй группой, которая отлична от первой. |
