| 摘要 |
<p>Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Bestimmung der Sperrschichttemperatur eines Leistungshalbleiters derart auszubilden, dass keine Temperaturmesseinrichtung innerhalb des den zu überwachenden Leistungshalbleiter beinhaltenden Gehäuses benutzt wird und Auswirkungen von sowohl Veränderungen des thermischen Widerstandes des kontrollierten Leistungshalbleiters als auch von Abweichungen zwischen theoretisch berechneter und gemessener Temperatur an der Temperaturmessstelle außerhalb des Gehäuses auf die aktuelle Höhe der zu bestimmenden Sperrschichttemperatur berücksichtigt werden. Das Verfahren soll insbesondere keine Unterbrechung des Betriebes des Leistungshalbleiters bedingen. Die Erfindung zeichnet sich dadurch aus, dass das thermische Übergangsverhalten zwischen der Sperrschicht und dem Bezugspotential, im Allgemeinen einer mit einfachen Mitteln zugänglichen Temperaturmessstelle, in Form eines Zustandsraummodells nachgebildet und dieses Zustandsraummodell um einen Zustandsbeobachter erweitert ist. Das Verfahren kann zur präzisen Bestimmung der Sperrschichttemperatur eines Leistungshalbleiters ohne Temperaturmesseinrichtung innerhalb des den zu überwachenden Leistungshalbleiter beinhaltenden Gehäuses eingesetzt werden, ohne den Betrieb des Leistungshalbleiters unterbrechen zu müssen.</p> |
