发明名称 |
双边错位差动共焦测量方法 |
摘要 |
本发明属于光学成像与检测技术领域,涉及一种双边错位差动共焦测量方法。该方法通过对共焦轴向特性曲线自身两侧边数据组的错位差动相减处理,来准确求得共焦系统特性曲线的极值点位置。本发明由于利用了共焦特性曲线靠近半高宽位置附近对轴向位移非常灵敏的两段数据来进行差动相减处理,因而由该数据段推算出的共焦特性曲线的极值点位置与现有共焦特性曲线顶部拟合方法相比灵敏度大幅提高,其结果在不改变共焦显微系统结构的条件下,可显著改善现有共焦显微系统的轴向分辨力和信噪比等。本发明将为共焦成像/检测领域提供一种新的技术途径。 |
申请公布号 |
CN104568390A |
申请公布日期 |
2015.04.29 |
申请号 |
CN201510015231.4 |
申请日期 |
2015.01.12 |
申请人 |
北京理工大学 |
发明人 |
赵维谦;邱丽荣;王允 |
分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01M11/02(2006.01)I |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
一种双边错位差动共焦测量方法,其特征在于包括下列步骤:步骤一、将共焦轴向强度响应数值(14)自身一侧边的数据组进行平移S并与其另一侧边数据组交汇并进行错位差动相减处理;步骤二、将错位差动相减处理的数据进行曲线拟合,求曲线拟合方程;步骤三、求拟合曲线方程的解,确定共焦轴向强度响应数值(14)的共焦轴向响应特性曲线极值点的准确位置。 |
地址 |
100081 北京市海淀区中关村南大街5号北京理工大学 |