发明名称 |
探针寿命测试仪 |
摘要 |
本实用新型涉及一种探针寿命测试仪,属于电子设备技术领域。该结构的探针寿命测试仪包括曲柄机构、测试针固定机构和千分表,能够利用千分表精确测量每次弹簧探针的压缩量,进而能够测量出每根探针电阻,从而快速确定其使用寿命,且本实用新型的探针寿命测试仪结构简单,成本低廉,应用也相当方便。 |
申请公布号 |
CN204302386U |
申请公布日期 |
2015.04.29 |
申请号 |
CN201420745124.8 |
申请日期 |
2014.12.02 |
申请人 |
上海韬盛电子科技有限公司 |
发明人 |
刘凯;郭靖;高凯;殷岚勇 |
分类号 |
G01R27/02(2006.01)I;G01R35/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R27/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海唯源专利代理有限公司 31229 |
代理人 |
蔡沅 |
主权项 |
一种探针寿命测试仪,其特征在于,包括曲柄机构、测试针固定机构和千分表;其中,所述的曲柄机构包括:减速器、偏心调整座和基座,所述的减速器连接于该偏心调整座,所述的偏心调整座可在基座凹槽内滑动,使该偏心调整座与所述基座中心不在一条轴线上,所述的偏心调整座与所述基座中心最大相距距离为d,且所述的偏心调整座顺序通过连杆、上连接杆和上滑座连接银块,该银块可在所述的偏心调整座的驱动下随所述的上滑座沿导轨上下移动,且上下移动的距离为2d,且所述的银块通过电阻仪测试线连接电阻仪;所述的测试针固定机构包括:下滑座、测试头基板和测试头,所述的测试头基板固定于所述的下滑座上,所述的测试头设置于所述的测试头基板上,所述的下滑座可沿所述的导轨上下移动,并通过锁紧装置固定所述的下滑座与导轨之间的位置;所述的千分表通过千分表导杆接触所述的上连接杆。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路498号9幢20214室 |