发明名称 薄膜晶体管结构
摘要 本发明公开了一种薄膜晶体管结构,包括:一源极;一漏极,该漏极与该源极间隔设置;一半导体层;以及一栅极,该栅极通过一绝缘层与该半导体层、源极及漏极绝缘设置;所述半导体层与源极及漏极之间还设有欧姆接触层,所述欧姆接触层进一步包括层叠的第一磷掺杂层、第二磷掺杂层及第三磷掺杂层,其中,所述第一磷掺杂层靠近半导体层,所述第三磷掺杂层靠近源极及漏极,且所述第一磷掺杂层的磷掺杂浓度小于第二磷掺杂层的磷掺杂浓度,所述第二磷掺杂层的磷掺杂浓度小于第三磷掺杂层的磷掺杂浓度。本发明能降低半导体与金属间的接触势垒,使得二者形成良好的欧姆接触,从而有效降低非晶硅薄膜晶体管的漏电流,且不影响其开态电流。
申请公布号 CN104576750A 申请公布日期 2015.04.29
申请号 CN201410713161.5 申请日期 2014.12.02
申请人 信利(惠州)智能显示有限公司 发明人 胡典禄;陈建荣;任思雨;苏君海;黄亚清;李建华
分类号 H01L29/786(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I 主分类号 H01L29/786(2006.01)I
代理机构 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人 邓义华;陈卫
主权项 一种薄膜晶体管结构,包括:一源极;一漏极,该漏极与该源极间隔设置;一半导体层;以及一栅极,该栅极通过一绝缘层与该半导体层、源极及漏极绝缘设置;其特征在于,所述半导体层与源极及漏极之间还设有欧姆接触层,所述欧姆接触层进一步包括层叠的第一磷掺杂层、第二磷掺杂层及第三磷掺杂层,其中,所述第一磷掺杂层靠近半导体层,所述第三磷掺杂层靠近源极及漏极,且所述第一磷掺杂层的磷掺杂浓度小于第二磷掺杂层的磷掺杂浓度,所述第二磷掺杂层的磷掺杂浓度小于第三磷掺杂层的磷掺杂浓度。
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