发明名称 | 一种天线测量暗室主反射点区域确定方法 | ||
摘要 | 本发明公开一种天线测量暗室的主反射点区域确定方法,该方法包括以暗室中的发射天线作为点源,暗室中的每个面分别作为镜面,将点源与各镜面进行几何镜像得到每个面的镜像点;将暗室测试区域的每一位置分别与每个面的镜像点连线,在每个面上得到连线与该面的交汇区域;将每个面上的交汇区域作为该暗室测试区域在暗室该面的主反射点区域。本发明所述技术方案,能够准确地确定测试区在各墙壁的主反射点区域,进行减少吸波材料的浪费。 | ||
申请公布号 | CN104567764A | 申请公布日期 | 2015.04.29 |
申请号 | CN201410828069.3 | 申请日期 | 2014.12.25 |
申请人 | 北京无线电计量测试研究所 | 发明人 | 马永光;杨金涛;王淞宇;韩玉峰 |
分类号 | G01B21/00(2006.01)I | 主分类号 | G01B21/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人 | 张文祎 |
主权项 | 一种天线测量暗室的反射点区域确定方法,其特征在于,所述该方法包括:以暗室中的发射天线作为点源,暗室中的每个面分别作为镜面,将点源与各镜面进行几何镜像得到每个面的镜像点;将暗室测试区域的每一位置分别与每个面的镜像点连线,在每个面上得到连线与该面的交汇区域;将每个面上的交汇区域作为该暗室测试区域在暗室该面的主反射点区域。 | ||
地址 | 100854 北京市海淀区142信箱408分箱 |