| 摘要 |
테스트 스트립을 수납하기 위한 테스트 미터는, (a) 하우징, (b) 상기 하우징 내에 배치된 전자 회로 및 (c) 상기 전자 회로에 접속되어 있으며 상기 하우징 내의 개구부에 연장되어 있는 스트립 포트 커넥터로서, 수납된 테스트 스트립과 상기 전자 회로를 접속시켜 주는 스트립 포트 커넥터를 포함한다. 상기 스트립 포트 커넥터는 한 쌍의 상부 및 하부 접점들을 포함하며, 상기 상부 및 하부 접점들은 기단부 및 말단부 그리고 중앙 접점부를 지니고, 상기 한 쌍의 상부 및 하부 접점들은 서로 횡 방향으로 정렬되어 있으며, 상기 상부 및 하부 접점들의 말단부들은 대립된 접점들 사이에 테스트 스트립을 삽입함으로써 서로 분리되거나 서로 분리될 수 있다. 상기 접점들 및 상기 미터는 삽입된 테스트 스트립과 관련이 있는 잘못된 접점들 및/또는 부호화의 검출을 허용하는데 적합하다. |
