降低小延迟缺陷过测试的热驱动可测试性设计结构与方法

摘要

本发明提出一种降低小延迟缺陷过测试的热驱动可测试性设计结构，包括：n个扫描链组，其中，每个扫描链组包括k个子扫描链，k个子扫描链由电路中的每条原始扫描链划分得到；n个多路输出选择器DMUX，n个DMUX一一对应地设置在n个扫描输入端和n个扫描链组的输入端之间；n个第一多路复用器MUX，n个MUX一一对应地设置在n个扫描输出端和n个扫描链组的输出端之间；控制单元，用于控制n个扫描链组中的k个子扫描链依次进行测试。根据本发明实施例的降低小延迟缺陷过测试的热驱动可测试性设计结构可以有效降低小延迟缺陷过测试。

主权项

一种降低小延迟缺陷过测试的热驱动可测试性设计结构，其特征在于，包括：n个扫描链组，其中，每个扫描链组包括k个子扫描链，所述k个子扫描链由电路中的每条原始扫描链划分得到；n个多路输出选择器DMUX，所述n个DMUX一一对应地设置在n个扫描输入端和所述n个扫描链组的输入端之间；n个第一多路复用器MUX，所述n个MUX一一对应地设置在n个扫描输出端和所述n个扫描链组的输出端之间；以及控制单元，所述控制单元分别与所述n个扫描链组、所述n个DMUX和所述n个MUX相连，用于控制n个扫描链组中的k个子扫描链依次进行测试，同时，控制所述n个DMUX将由n个扫描输入端接收的测试数据传输到相应的子扫描链，以及控制所述n个MUX将相应的子扫描链的测试结果通过所述n个扫描输出端输出。