发明名称 集成超势垒整流器的IGBT器件及制造方法
摘要 本发明公开了一种集成超势垒整流器的IGBT器件,其背面具有V型槽,V型槽穿过所述IGBT的集电区,其底部位于重掺杂N型缓冲层,其侧壁具有氧化硅层,槽内填充金属,形成超势垒整流器:所述V型槽内侧壁的氧化硅层和槽内填充的金属构成超势垒整流器的栅极,IGBT的集电区作为体区,V型槽间的P型区与背面金属结合形成超势垒整流器的漏极,IGBT的重掺杂N型缓冲层作为超势垒整流器的源区。IGBT自身集成续流二极管,节省芯片成本,在IGBT正向导通时,能抑制集电极空穴注入,提高IGBT关断速度。本发明还公开了所述集成超势垒整流器的IGBT器件的制造方法。
申请公布号 CN104576716A 申请公布日期 2015.04.29
申请号 CN201310509003.3 申请日期 2013.10.24
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 柯行飞
分类号 H01L29/739(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/331(2006.01)I 主分类号 H01L29/739(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 丁纪铁
主权项 一种集成超势垒整流器的IGBT器件,其沟槽型栅极是穿通源区、体区,底部位于轻掺杂N型漂移区;源区上方覆盖硼磷硅玻璃介质层,硼磷硅玻璃介质层上方覆盖表面金属;接触孔穿通硼磷硅玻璃及源区,将体区中的接触注入引出与表面金属相连;其特征在于:所述IGBT背面的集电区中具有V型槽,V型槽穿通集电区层底部位于重掺杂N型缓冲层中;V型槽内壁具有氧化硅层,再填充金属层并覆盖整个IGBT的背面形成IGBT的集电极金属。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号