发明名称 |
一种换向器接触片测量装置及测量方法 |
摘要 |
本发明提供了一种换向器接触片测量装置及测量方法,属于测量工具技术领域;它解决了现有测量装置测量精度较低的技术问题;一种换向器接触片测量装置,包括尺架、固定套筒、活动测杆、微分筒,活动测杆位于固定套筒内并能于固定套筒内移动,固定套筒一端与尺架一端固连且活动测杆前端穿过尺架并与另一端相对,微分筒套设于固定套筒上并与固定套筒相对移动,尺架两端之间设置有测量块,测量块上开设有锥形缺口,接触片两侧边的夹角角度与锥形缺口的夹角角度相等,活动测杆的前端设置有锥形测头且锥形测头能在锥形缺口内移动;该测量装置对接触片的宽度、厚度、夹角角度等数据进行检测,增加了测量精度,提高了接触片成型件的成型质量。 |
申请公布号 |
CN104567580A |
申请公布日期 |
2015.04.29 |
申请号 |
CN201410709870.6 |
申请日期 |
2014.11.28 |
申请人 |
华瑞电器股份有限公司 |
发明人 |
王国夫;孙瑞娣;蒋其丰 |
分类号 |
G01B5/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01B5/00(2006.01)I |
代理机构 |
宁波市鄞州盛飞专利代理事务所(普通合伙) 33243 |
代理人 |
张向飞 |
主权项 |
一种换向器接触片测量装置,包括尺架、固定套筒、活动测杆、微分筒,所述活动测杆位于固定套筒内并能于固定套筒内移动,所述固定套筒一端与尺架一端固连且活动测杆前端穿过尺架并与另一端相对,所述微分筒套设于固定套筒上并与固定套筒相对移动,其特征在于:所述尺架两端之间设置有测量块,所述测量块上开设有用于容纳接触片的锥形缺口,所述接触片两侧边的夹角角度与锥形缺口的夹角角度相等,所述活动测杆的前端设置有与锥形缺口相应的锥形测头且锥形测头能在锥形缺口内移动。 |
地址 |
315191 浙江省宁波市鄞州区姜山镇科技园区 |