| 发明名称 | 校准集成电路的时间常数的系统和设有此系统的集成电路 | ||
| 摘要 | 用于校准集成电子电路(1)的时间常数R<sub>0</sub>C1的系统和方法。可变阻抗滤波器(20)连接到所述集成电子电路(1)的输入，固定频率的模拟输入信号V<sub>in</sub>施加到所述滤波器(20)，测量所述滤波器(20)产生的模拟输入信号V<sub>in</sub>的衰减，以及调整所述时间常数R<sub>0</sub>C1的值和所述可变阻抗滤波器(20)的阻抗值，直到获得与所述集成电子电路(1)的预期衰减一致的衰减为止。 | ||
| 申请公布号 | CN102301591B | 申请公布日期 | 2015.04.29 |
| 申请号 | CN201080005906.2 | 申请日期 | 2010.01.28 |
| 申请人 | 意法爱立信有限公司 | 发明人 | 艾瑞克·安德烈;塞巴斯蒂安·勒费布尔;乔纳森·阿米亚希 |
| 分类号 | H03H11/12(2006.01)I;H03H7/01(2006.01)I | 主分类号 | H03H11/12(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人 | 黄志华 |
| 主权项 | 一种用于校准集成电子电路(1)的可调时间常数(R<sub>0</sub>C<sub>i</sub>)的方法，其特征在于，可变阻抗滤波器(20)连接到所述集成电子电路(1)的输入端，固定频率的模拟输入信号(V<sub>in</sub>)施加到所述滤波器(20)，测量所述滤波器(20)产生的模拟输入信号(V<sub>in</sub>)衰减，以及调整所述时间常数(R<sub>0</sub>C<sub>i</sub>)的值和所述可变阻抗滤波器(20)的阻抗的值，直到获得与所述集成电子电路(1)的预期衰减一致的衰减为止,其中由所述滤波器(20)产生的所述模拟输入信号(V<sub>in</sub>)衰减是通过比较所进行的不具有所述滤波器(20)的功率测量和所进行的具有所述滤波器(20)的功率测量而确定的。 | ||
| 地址 | 瑞士普朗莱乌特 | ||