具有双金结构的低压电器整机老化的方法

摘要

一种具有双金结构的低压电器整机老化的方法，包括以下步骤：a)在低压电器产品组装完成后进行校验之前，将该低压电器整机产品接通三相主电路1.2～6倍额定电流进行整机老化5～20分钟。b)整机老化完成后整机冷却至产品复位。c)接通三相1.05倍额定电流，稳定20分钟～40分钟进行早脱扣产品调校。接通1.2倍额定电流动作10分钟～2小时，对在此过程中不脱扣产品进行调校。本发明通过采用整机老化工艺来同时解决现有双金式热继电器存在的多个问题，不仅能在整个自动化生产过程中切实提高且保持双金片的稳定性和避免双金片零点漂移，而且使电器制造、装配和检验均能方便实现。

主权项

一种具有双金结构的低压电器整机老化的方法，包括以下步骤：a)在低压电器产品组装完成后进行校验之前，将该低压电器整机产品接通三相主电路1.2～6倍额定电流进行整机老化；b)整机老化完成后整机冷却至产品复位；c)接通三相1.05倍额定电流进行早脱扣调校，对在此过程中早脱扣产品进行调校；d)接通1.2倍额定电流动作进行不脱扣调校，对在此过程中不脱扣产品进行调校。