发明名称 |
一种用于漏电保护器的测试系统 |
摘要 |
本发明公开了一种用于漏电保护器的测试系统,包括微处理器、电流检测电路、测试电流产生及调节模块、编码调节电路、驱动电路、串口通信电路和上位机,所述测试电流产生及调节模块与漏电保护器相连接,所述测试电流产生及调节模块的电流输出端通过电流检测电路与微处理器相连接,所述微处理器通过驱动电路与测试电流产生及调节模块的控制输入端相连接,所述微处理器还通过串口通信电路与上位机相连接,所述编码调节电路与微处理器相连接。本发明的用于漏电保护器的测试系统,包括测试电流产生及调节模块,能够自动调节测试电流值,测试不同电流下的漏电保护器的性能,提高测试效果,具有良好的应用前景。 |
申请公布号 |
CN104569663A |
申请公布日期 |
2015.04.29 |
申请号 |
CN201410814312.6 |
申请日期 |
2014.12.23 |
申请人 |
陈昊书 |
发明人 |
陈昊书 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01)I;G05B23/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 |
南京纵横知识产权代理有限公司 32224 |
代理人 |
董建林 |
主权项 |
一种用于漏电保护器的测试系统,其特征在于:包括微处理器、电流检测电路、测试电流产生及调节模块、编码调节电路、驱动电路、串口通信电路和上位机,所述测试电流产生及调节模块与漏电保护器相连接,所述测试电流产生及调节模块的电流输出端通过电流检测电路与微处理器相连接,所述微处理器通过驱动电路与测试电流产生及调节模块的控制输入端相连接,所述微处理器还通过串口通信电路与上位机相连接,所述编码调节电路与微处理器相连接。 |
地址 |
212000 江苏省镇江市京口区华润新村20号405室 |