发明名称 结晶辊状态监控装置
摘要 一种结晶辊状态监控装置,包括:两个辊面温度扫描仪,安装在两根结晶辊外侧,扫描结晶辊的辊面温度;通讯模块,连接在辊面温度扫描仪与薄带连铸控制系统之间,建立二者间的通讯;结晶辊状态监控模块,判断结晶辊状态;辊面温度扫描仪在收到开浇信号后开始扫描,并将此时结晶辊位置作为原点O,在每次扫描时计算当前扫描位置相对于O点的距离,当此距离大于等于结晶辊周长时,取其余数;对读入的各点温度Ti与温度阈值Ttv进行比较,当连续n个点均满足Ti大于Ttv时,判断此处的结晶辊辊面为可疑缺陷点,根据结晶辊的转速判断结晶辊的旋转周期,当可疑缺陷点在下m个周期均重复出现,则判断该可疑缺陷点为由结晶辊本身的故障造成的缺陷点。
申请公布号 CN102463328B 申请公布日期 2015.04.29
申请号 CN201010534847.X 申请日期 2010.11.08
申请人 上海宝信软件股份有限公司 发明人 朱丽业;牛晋生;林富贵
分类号 B22D11/16(2006.01)I;B22D11/06(2006.01)I 主分类号 B22D11/16(2006.01)I
代理机构 上海集信知识产权代理有限公司 31254 代理人 周成
主权项 一种结晶辊状态监控装置,其特征在于,包括:两个辊面温度扫描仪,分别安装在两根结晶辊的外侧,辊面温度扫描仪扫描结晶辊的辊面温度;通讯模块,连接在辊面温度扫描仪与薄带连铸控制系统之间,建立辊面温度扫描仪与薄带连铸控制系统之间的通讯;结晶辊状态监控模块,判断结晶辊状态;其中辊面温度扫描仪在收到开浇信号后开始扫描,并将此时结晶辊的位置作为原点O,并在每次扫描时都计算出当前的扫描位置相对于O点的距离,当此距离大于等于结晶辊周长时,取其余数;对读入的各点温度Ti与温度阈值Ttv进行比较,当连续n个点均满足实测温度Ti大于阈值Ttv时,判断此处的结晶辊辊面为可疑缺陷点,此时根据结晶辊的转速判断结晶辊的旋转周期,当可疑缺陷点在下m个周期均重复出现,则判断该可疑缺陷点为由结晶辊本身的故障造成的缺陷点。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路515号
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