掺银缺陷负折射光子晶体三平板组探测系统

摘要

本发明公开一种掺银缺陷负折射光子晶体三平板组探测系统，包括上、中、下三块平行的有掺银缺陷杂质的平板透镜，上、下平板透镜上的掺银缺陷均是以中心轴Y左右对称、以中心轴X上下对称，均是最上一排以中心轴Y为界，分别沿中心轴X的左、右方向排列的第7个空气孔为掺银缺陷，从最上一排空气孔依次地向下各排空气孔中，依次地在左、右方向再向外错位一个空气孔为掺银缺陷,直至中心轴X所在这一排空气孔为止；中间平板透镜上的掺银缺陷以中心轴Y左右对称，最上一排以中心轴Y为界，分别沿中心轴X的左、右方向排列的第5个空气孔为掺银缺陷，从上至下的各排空气孔中，左、右依次往外错位一个空气孔为掺银缺陷，提高了系统的再聚焦分辨率。

主权项

一种掺银缺陷负折射光子晶体三平板组探测系统，包括位置重合的光源和探测器，其特征是：在光源和探测器上方置放上、中、下三块平行的、由空气隔离的、有掺银缺陷杂质的等效负折射光子晶体平板透镜，每块平板透镜均是由在GaAs介质基底刻蚀呈三角排列的圆柱型空气孔构成；上、下平板透镜上的掺银缺陷的排列结构相同，均是以中心轴Y左右对称、以中心轴X上下对称，均是最上一排以中心轴Y为界，分别沿中心轴X的左、右方向排列的第7个空气孔为掺银缺陷，从最上一排空气孔依次地向下各排空气孔中，依次地在左、右方向再向外错位一个空气孔为掺银缺陷, 直至中心轴X所在的这一排空气孔为止；中间平板透镜上的掺银缺陷以中心轴Y左右对称，最上一排以中心轴Y为界，分别沿中心轴X的左、右方向排列的第5个空气孔为掺银缺陷，从上至下的各排空气孔中，左、右依次往外错位一个空气孔为掺银缺陷。