发明名称 垂直型NPN器件的制造方法
摘要 本发明公开了一种垂直型NPN器件的制造方法,其基区下方的N型埋层是通过在基区两侧的注入,然后通过热推进形成连通,基区正下方不进行埋层注入,这样形成的器件既具有低的集电区电阻,同时也拥有较高的击穿电压,本发明所述垂直型NPN器件的制造方法,适用于BCD工艺,仅需修改集电区埋层的离子注入掩膜版,不需其他的离子注入,工艺简单易于实施,不增加制造成本。
申请公布号 CN104576364A 申请公布日期 2015.04.29
申请号 CN201310509002.9 申请日期 2013.10.24
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 慈朋亮;李娟娟;钱文生;胡君;刘冬华;石晶;段文婷
分类号 H01L21/331(2006.01)I;H01L21/265(2006.01)I 主分类号 H01L21/331(2006.01)I
代理机构 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人 丁纪铁
主权项 一种垂直型NPN器件的制造方法,其特征在于,包含如下工艺步骤:第一步,在轻掺杂的P型衬底上,进行N型埋层的注入,埋层注入利用掩膜版避开所述垂直型NPN器件的基区区域;第二步,进行热过程推进,使注入的N型杂质向基区下方扩散,使得所述垂直型NPN器件P型基区下方的N型杂质浓度提高,N型埋层形成连通;第三步,生长N型外延层;第四步,利用掩膜版定义集电区沉阱,进行N型沉阱的注入;第五步,利用掩膜版定义基区,进行P型基区的注入;第六步,进行局部场氧化,形成场氧;第七步,利用掩膜版进行发射区以及集电区接触注入区的杂质注入;再利用掩膜版进行基区接触注入区杂质注入。
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