具有自动校正功能的X-射线成像方法

摘要

本发明公开了一种具有自动校正功能的X-射线成像方法，首先，X-射线源将点光源直接照射到平板探测器，平板探测器接受到图像信号；其次，图像信号经信号放大器放大后进入自动校正单元进行校正，自动校正单元输出信号I（x，y）和输入信号I₀（x，y）的关系是I(x，y)=G₀(x，y)×S(x，y)×I₀(x，y)，这里（x，y）是图像空间坐标，G₀(x，y)是探测器灵敏度校正函数，S(x，y)是系统自动校正函数；最后，校正后图像在经过数字图像处理单元处理后输出。本发明的方法使得成像系统在变化条件下，不需要重复校正，仍然可以成一个最佳的图像。

主权项

具有自动校正功能的X‑射线成像方法，其特征在于：首先，X‑射线源将点光源直接照射到平板探测器，平板探测器接受到图像信号；其次，图像信号经信号放大器放大后进入自动校正单元进行校正，自动校正单元输出信号I(x，y)和输入信号I0(x，y)的关系是I(x，y)＝G₀(x，y)×S(x，y)×I₀(x，y)，这里(x，y)是图像空间坐标，G₀(x，y)是探测器灵敏度校正函数，S(x，y)是系统自动校正函数；最后，校正后图像在经过数字图像处理单元处理后输出；所述系统自动校正函数S(x，y)＝S₁(x，y)×S₂(x，y)×S₃(x，y)，这里S₁(x，y)是考虑到几何位置变化而引起的几何位置自校正函数，S₂(x，y)是成像系统的结构发生变化时引入的结构自校正函数，S₃(x，y)是X‑射线能量变化而引入的能量自校正函数；所述几何位置自校正函数所述结构自校正函数$S_2(x,y)=\frac{D}{D-d}\approx \frac{1}{1-\frac{r\left|z\right|}{f_0}\times \left(\frac{\sqrt{x^2+y^2}}{f_0+z}\right)},$所述能量自校正函数$S_3(x,y)\approx 1+(\frac{G_0{(x,y)}_2}{G_0{(x,y)}_1}-1)\times \left(\frac{\mathrm{kVp}-\mathrm{kV}{p}_1}{\mathrm{kV}{p}_2-\mathrm{kV}{p}_1}\right),$这里r＝h/D是滤线删比值，z是X‑射线源距离滤线删焦点的距离，h是滤线删的厚度，d是滤线删隔膜的厚度，D是滤线删空格的宽度；f₀是滤线删的焦距，SID是射线源到平板探测器的距离，SID₀是特定的射线源到平板探测器的距离，kVp是X‑射线能量，G₀(x，y)₁、G₀(x，y)₂分别是在两种X‑射线能量kVp₁和kVp₂情况下，平板探测器的灵敏度校正函数。