| 发明名称 | 微粒分析装置和方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了微粒分析装置和方法，该微粒分析装置包括：光源；第一聚光透镜，用于将来自光源的光会聚至多模光纤的第一端；第二聚光透镜，用于将从多模光纤的第二端出射的光会聚至微粒；以及检测器，用于检测通过施加来自光源的光而从微粒产生的光。 | ||
| 申请公布号 | CN102331396B | 申请公布日期 | 2015.04.29 |
| 申请号 | CN201110162675.2 | 申请日期 | 2011.06.16 |
| 申请人 | 索尼公司;iCyt米申技术公司 | 发明人 | 浩司高崎;濑尾胜弘;外石满;晋司山田;福本敦;加里·杜拉克 |
| 分类号 | G01N15/14(2006.01)I | 主分类号 | G01N15/14(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人 | 余刚;吴孟秋 |
| 主权项 | 一种微粒分析装置，包括：光源；第一聚光透镜，用于将来自所述光源的光会聚至多模光纤的第一端；第二聚光透镜，用于将从所述多模光纤的第二端出射的所述光会聚至微粒；检测器，用于检测通过施加来自所述光源的所述光而从所述微粒产生的光；以及光偏转装置，用于随时间改变来自所述光源的所述光在所述多模光纤的所述第一端处的入射位置。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||