发明名称 |
芯片测试固定装置 |
摘要 |
本实用新型涉及一种芯片测试固定装置,属于电子设备技术领域。该结构的芯片测试固定装置包括底座和连杆,连杆的一端通过第一转轴与底座连接,该连杆可以所述第一转轴为轴心转动并盖合于所述的底座上,该连杆上设置有芯片座,所述的芯片座上设置有弹簧压片,待测试的芯片固定于所述的弹簧压片与所述的芯片座之间,从而便于芯片固定,进而保证芯片检测效果,且本实用新型的芯片测试固定装置结构简单,成本也相当低廉。 |
申请公布号 |
CN204302319U |
申请公布日期 |
2015.04.29 |
申请号 |
CN201420692668.2 |
申请日期 |
2014.11.18 |
申请人 |
上海韬盛电子科技有限公司 |
发明人 |
刘凯;施元军;高凯;殷岚勇 |
分类号 |
G01R1/04(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/04(2006.01)I |
代理机构 |
上海唯源专利代理有限公司 31229 |
代理人 |
蔡沅 |
主权项 |
一种芯片测试固定装置,其特征在于,包括底座和连杆,所述连杆的一端通过第一转轴与所述的底座连接,该连杆可以所述第一转轴为轴心转动并盖合于所述的底座上,该连杆上设置有芯片座,所述的芯片座上设置有弹簧压片,待测试的芯片固定于所述的弹簧压片与所述的芯片座之间;所述的底座上设置有通孔,在所述的连杆盖合于所述底座的状态下,所述的芯片座、弹簧压片及待检测的芯片位于所述的通孔中。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路498号9幢20214室 |