一种监测目标物体缺陷的方法及设备

摘要

本发明公开了一种监测目标物体缺陷的方法及设备，用以解决现有技术中存在的处理效率低且不能确定缺陷区域位置的问题。本发明实施例的方法包括：采集待检测目标物体的图像；对待检测目标物体进行着色处理；根据设定的聚类中心确定包含待检测目标物体的图像中属于每个聚类中心的像素点；根据属于同一个隶属区域的像素点确定该隶属区域对应的特征数据；根据每个隶属区域对应的特征数据及该特征数据对应的阈值，确定隶属区域是否为待检测目标物体的缺陷区域。本发明实施例根据属于每个设定的聚类中心的像素点组成的隶属区域的特征数据及阈值以确定待检测目标物体的缺陷区域，不仅处理速度快，而且能够确定待检测目标物体的缺陷区域的位置。

主权项

一种监测目标物体缺陷的方法，其特征在于，所述方法包括：采集待检测目标物体的图像；对所述待检测目标物体进行着色处理；确定包含所述待检测目标物体的图像中的像素点与聚类中心的隶属度矩阵；根据预设的模糊度系数和所述隶属度矩阵进行修正处理，得到修正隶属度矩阵，并根据所述修正隶属度矩阵确定所述图像的目标函数矩阵；根据目标函数矩阵，确定每个聚类中心对应的每个像素点的筛选值；针对一个聚类中心，根据该聚类中心对应的每个像素点的筛选值，确定属于该聚类中心的隶属区域中的像素点，其中属于同一个聚类中心的像素点组成该聚类中心的隶属区域；根据属于同一个隶属区域的像素点确定该隶属区域对应的特征数据；根据每个隶属区域对应的特征数据及该特征数据对应的阈值，确定所述隶属区域是否为所述待检测目标物体的缺陷区域。