| 发明名称 | 一种相控阵传感器的卫星标校方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种相控阵传感器的卫星标校方法，包括：根据传感器的工作模式选择相应的标校策略；若传感器采用定方位工作模式则采取静态标校策略：对传感器进行定方位静态标校，任务结束则传感器卫星标校完成；若传感器采用随动观测的工作模式，则采取随动标校策略：先对传感器进行全方位动态标校；在传感器随动工作的方位区间内，按6～10度方位间隔取一系列标校点；在每一个标校点上分别对传感器进行定方位静态标校，任务结束则传感器卫星标校完成。本发明针对传感器的结构特点和工作模式，分别采用对应的系统误差标校模式和误差模型，在工作时可按工作模式采用相应的标校方法，不仅可显著提高了标校效率，还可有效提高传感器的量测精度。 | ||
| 申请公布号 | CN104535976A | 申请公布日期 | 2015.04.22 |
| 申请号 | CN201410801509.6 | 申请日期 | 2014.12.22 |
| 申请人 | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 | 发明人 | 郭佳意;钮俊清;邓有银;魏文博;刘二小 |
| 分类号 | G01S7/40(2006.01)I;G06F19/00(2011.01)I;G01S19/14(2010.01)I | 主分类号 | G01S7/40(2006.01)I |
| 代理机构 | 合肥金安专利事务所 34114 | 代理人 | 吴娜 |
| 主权项 | 一种相控阵传感器的卫星标校方法，其特征在于：该方法包括下列顺序的步骤：（1）根据传感器的工作模式选择相应的标校策略；（2）若传感器采用定方位工作模式则采取静态标校策略：对传感器进行定方位静态标校，任务结束则传感器卫星标校完成；（3）若传感器采用随动观测的工作模式，则采取随动标校策略：首先对传感器进行全方位动态标校，以标校结果作为基本参照；其次，在传感器随动工作的方位区间内，按6～10度方位间隔取一系列标校点；最后，在每一个标校点上分别对传感器进行定方位静态标校，任务结束则传感器卫星标校完成。 | ||
| 地址 | 230088 安徽省合肥市高新区香樟大道199号 | ||